Alguns anos atrás, participei de uma aula de teoria da complexidade de Steven Rudich, e lembro-me dele dando uma palestra interessante conectando testes estatísticos (como encontrado nos departamentos de estatística!) Com a complexidade do circuito. Lembro-me dele afirmando algo vagamente parecido: você poderia usar circuitos para caracterizar abstratamente o que era um teste estatístico e que havia limites fundamentais em que tipos de padrões os testes estatísticos poderiam identificar.
Infelizmente, não me lembro exatamente qual era a alegação dele, nem mesmo palavras-chave suficientes para me permitir pesquisar no Google. Alguém sabe o que ele poderia ter significado e me fornece algumas referências?
(Minhas desculpas pela imprecisão desta pergunta: se eu soubesse o suficiente para perguntar com precisão, não precisaria perguntar!)
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Respostas:
Uma maneira alternativa de definir "teste estatístico" é dada por Blum e Goldreich .
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